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安微高低温冷热冲击箱等院校环试设备

安微高低温冷热冲击箱等院校环试设备

简要描述:安微高低温冷热冲击箱等院校环试设备
冷热冲击箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

产品型号: TSD-50F-2P

所属分类:二箱式冷热冲击试验箱

更新时间:2024-06-29

厂商性质:生产厂家

详情介绍

安微高低温冷热冲击箱等院校环试设备

 

可扩充设备:

1. 温度记录器

2. Ln2快速降温控制系统

3. RS-232通信接口装置,可与个人计算机同时进行局域网络联机监控及记录。

 

产品型号:TSD-50F-2P
工作室尺寸:400×350×350mm; (深×宽×高)
    冷热冲击试验箱适用于电子、汽车配件、塑胶等行业,测试各种材料对高、低温的反复冲击能力。检测产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害,确保产品的品质。
满足标准:产品满足CNSMIL、IEC、JIS、等标准

主要技术指标:
温度范围:高温箱: 60℃~180℃;
低温箱: -60℃~-10℃;
温度波动度:±0.5℃;
温度均匀:±2℃;
升温速率:≤5℃/min; (全程平均)
降温速率:≤5℃/min;; (全程平均)
预冷下限温度:≤-70℃;
冲击温度: 150~-60℃;
样品架尺寸:150×150mm;
温度恢复时间: 5min;
样品架转换时间:≤10s;
冲击方式:上下移动提篮式或翻板式
电源:380V±10﹪ 50Hz

功能模块:

1. 此设备分为高温区、低温区及测试区三部分,采用*的断热结构及蓄热、蓄冷效果,采用冷热风路切换方式导入试品中,做冷热冲击测试.

2. 采用原装日制微电脑大型液晶(320*240dots)中英文显示控制系统。

3. 高程式记忆容量,可设定储存100组程式,zui大循环设定9999cycles,每段时间zui大设定999Hrs59Mins.

4. 具有RS-232C通信介面装置,可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接(TIMER SINGAL RELAY),使用便捷。执行冷热冲击条件时,可选择2 Zone 或3 Zone之功能。

5. 具备全自动,高精度系统,任一机件动作,*由P.L.C锁定处理。

6. 机件故障时,配自动线路及警示讯号,发现输入电压不稳定时,具有紧急停机装置。

 

安微高低温冷热冲击箱等院校环试设备

 

 



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